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QZ 06/2015

Saubere Bauteile

Mikroskopbasiertes Messsystem für automatisierte Partikelanalyse

Saubere Bauteile

Die technische Sauberkeit von Bauteiloberflächen lässt sich auf verschiedene Weise ermitteln. Bei der indirekten Methode werden die Partikel extrahiert und mit mikroskopbasierten Messsystemen analysiert. Damit können der Reinheitsgrad und die Wirksamkeit der Partikelreinigung überprüft werden.

James A. DeRose, Leica Microsystems; Yvonne Holzapfel, Guido Kreck und Markus Rochowicz, Fraunhofer-Institut für Produktionstechnik und Automatisierung (IPA)

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Literaturhinweis

Rochowitz, M.: Unsichtbare Qualitätsgröße. In: QZ Qualität und Zuverlässigkeit 60 (2015) 3, Carl Hanser Verlag, München

Rochowicz, M.: Große Schritte für die Technische Sauberkeit. Journal für Oberflächentechnik (JOT), Vol. 53, iss. 16 (June 2013), S. 10–11

Kreck, G.; Holzapfel, Y.: Reinheitsvalidierung von kontaminationskritischen Produkten. reinraum online, 20 Dec. 2012, reinraum printline, Jan. 2013, S. 4–9

Gail, L.; Gommel, U.; Hortig, H.-P.: Reinraumtechnik, 3rd Edition, Springer, Berlin, Heidelberg, 2012

Cremer, C.: Lichtmikroskopie unterhalb des Abbe-Limits. Lokalisationsmikroskopie, Physik In Unserer Zeit, Band 42, Heft 1, Januar 2011, S. 21–29, DOI: 10.1002/piuz.201101251

Borlinghaus, R.T.: Super-Resolution – On a Heuristic Point of View About the Resolution of a Light Microscope. Leica Science Lab; www.leica-microsystems.com/science-lab/super-resolution-on-a-heuristic-point-of-view-about-the-resolution-of-a-light-microscope (Letzter Zugriff: 29.4.2015)

Unternehmensinformation

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DE 35578 Wetzlar
Tel.: 06441 29-0
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