Merken 27.03.2015

Weißlichtinterferometer TMS-350 Top Map In Line von Polytec

Produktionsfehlern auf der Spur

Weißlichtinterferometer TMS-350 Top Map In Line (Foto: Polytec)

Die Top-Map-Familie von Polytec, Waldbronn, wird mit dem Weißlichtinterferometer TMS-350 Top Map In Line erweitert. Das Messsystem ist auf die Bedürfnisse der Qualitätssicherung in der Fertigung zugeschnitten. Es misst berührungslos und basiert auf dem etablierten und rückführbar messenden Verfahren der Weißlichtinterferometrie. Durch seine kompakten Abmessungen soll es sich einfach in die Fertigungslinie integrieren lassen. Dort erkennt es laut Hersteller frühzeitig Fertigungstrends und Produktionsfehler.

Die Daten werden auf einem etwa 20 mm großen Messfeld in wenigen Sekunden erfasst. Weitere Messfelder sind verfügbar, sodass sich das Gerät auf anwenderspezifische Messaufgaben anpassen lässt. Mit einem Höhenmessbereich von bis zu 500 µm ist das System ideal zur Toleranzprüfung von Ebenheits-, Parallelitäts- und Stufenhöhenwerten geeignet, erklärt der Hersteller. Die Verwendung neuester Sensortechnik ermöglicht es, Ebenheitstoleranzen in 1 bis 2 s zu überprüfen, bei hoher Wiederholpräzision, so der Hersteller weiter.

Zusammen mit dem Gerät steht dem Werker eine überarbeitete Version der anwenderfreundlichen Gerätemess- und -auswertesoftware zur Verfügung. Diese ermöglicht es, die Bauteillage innerhalb des Messfelds automatisch zu erfassen und vordefinierte Auswerteroutinen automatisch an die Bauteilposition anzupassen. Dadurch sollen bei der produktionsnahen Stichprobenkontrolle aufwendige Probenhalterungen entfallen, und die Ergebnisse sind bedienerunabhängig.