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23.07.2018

DM6-M-LIBS-Mikroskop von Leica Microsystems

Vollständige Materialanalyse

DM6-M-LIBS-Mikroskop (© Leica Mikrosystems)

Mit dem DM6-M-LIBS-Mikroskop für die Materialanalyse und -prüfung von Leica Microsystems, Wetzlar, lassen sich die zwei wesentlichen Kennzeichen von Materialien in einem Arbeitsgang analysieren: Mikrostruktur und chemische Zusammensetzung.

Das Mikroskop verfügt über eine integrierte Funktion zur Laserspektroskopie (LIBS). Innerhalb einer Sekunde lassen sich laut Hersteller für eine Struktur, die gerade im Sichtfeld betrachtet wird, Informationen zur chemischen Natur ergänzen.

Im Vergleich zur bisher üblichen Downstream-Analyse mit Elektronenmikroskopie spart diese 2-in-1-Lösung nach Firmenangaben bis zu 90 Prozent an Zeit. Das 2-in-1-System macht den Probentransfer, die Zeit für die Probenvorbereitung und die Rüstzeiten für die Elektronenmikroskopie überflüssig. Alle relevanten Informationen, um bei der Inspektion die richtigen Entscheidungen zu treffen, sind in Sekundenschnelle verfügbar.

Mit der Lösung können sich die Anwender auf eine Materialstruktur konzentrieren und die LIBS-Analyse mit einem einzigen Klick auslösen. Die Probe verbleibt dabei in Raumluft-Umgebung. Das resultierende Spektrum zeigt den Fingerabdruck der im untersuchten Bereich vorhandenen Elemente. Die jeweilige chemische Zusammensetzung wird präzise im Ergebnis ausgewiesen.

Die Materialprüfung ist wichtig für die Qualitätskontrolle, die Fehleranalyse und die Forschung und Entwicklung u. a. im Automobilbau und Elektronikbereich.

Leica Microsystems GmbH
www.leica-microsystems.com

Unternehmensinformation

Leica Microsystems GmbH

Ernst-Leitz-Straße 17-37
DE 35578 Wetzlar
Tel.: 06441 29-0
Fax: 06441 29-4155

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