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03.03.2009

Variofokus-Röntgensystem Y.XST225-VF

Kleiner und variabler Brennfleck

Im Dezember hat Yxlon in Hamburg sein Variofokus-Röntgensystem Y.XST225-VF mit einer neuen Brennflecktechnologie präsentiert. Sie bietet laut Hersteller einen außerordentlich kleinen und in der Leistung variablen Brennfleck. Damit soll dieses Variofokus-System die Lücke zwischen Mikrofokus- und konventionellen Röntgenröhren in der digitalen Radiografie und Computertomografie schließen.

Im Vergleich zu den bisher eingesetzten konventionellen Röntgenröhren ist der Brennfleck des Röngtensystems symmetrischer und um mehr als die Hälfte kleiner – zwei wichtige Faktoren, die zu einer höheren Ortsauflösung und damit optimalen Detailerkennbarkeit führen. Den Angaben des Herstellers zufolge bietet die Variofokus-Röhre eine erheblich höhere Leistung als ein Großteil der bisher am Markt erhältlichen Mikrofokusröhren. Der Brennfleck dieser Röhre soll Werte zwischen 250 µm bei 290 W und bis zu 800 µm bei 1600 W annehmen.

Schlüsselparameter für optimale Röntgenbilder, die mit einem Flachdetektor generiert werden, sind eine hohe Ortsauflösung und ein geringer Signal-Rausch-Abstand. Beide Parameter werden von der Größe des Brennflecks beeinflusst. Durch den variablen Brennfleck passt sich die Brennfleckgröße gut an die erforderliche Detailerkennbarkeit und Detektorunschärfe an, die sich aus dem Material, der Form und der Beschaffenheit des Prüfobjekts ergeben. Auf diese Weise soll der Prüfer möglichst schnell von einer hohen Detailerkennbarkeit profitieren. Mit diesem Produkt richtet sich der Hersteller in erster Linie an die Automobil- sowie an die Luft- und Raumfahrtindustrie.

Unternehmensinformation

YXLON International GmbH

Essener Bogen 15
DE 22419 Hamburg
Tel.: 040 52729-0
Fax: 040 52729-170

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