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02.04.2007

TMS-100/120 TopMap Master

Schnelle Alternative

Weißlichtinterferometern TMS-100/120 TopMap Master

Weißlichtinterferometern TMS-100/120 TopMap Master

Mit den Weißlichtinterferometern TMS-100/120 TopMap Master will Polytec, Waldbronn, die optische Topografieerfassung mit einer Höhenauflösung von wenigen Nanometern ermöglichen. Berührungs- und zerstörungsfrei, auch bei weichen und empfindlichen Oberflächen, erfassen sie simultan große Flächen. Höhenabstände, Parallelität oder auch Rauheitsparameter können sofort bestimmt werden. Die laut Hersteller einfach zu bedienenden Systeme liefern direkt eine 3D-Visualisierung der gemessenen Oberfläche sowie die geforderten Oberflächenparameter. Lange Messzeiten, wie sie bei taktilen Messsystemen üblich sind, sollen damit vorbei sein.

Kundenspezifische Messoberflächen oder -routinen lassen sich mit einer passenden Software einrichten. Eine wichtige Anwendung ist dabei die Vermessung von Oberflächen in Kratern, Bohrungen in der Qualitätskontrolle oder beim Einrichten von Superfinishing-Maschinen. Die telezentrische Optik und eine Smart-Surface-Scanning-Technologie ermöglichen einfache Messungen auch an hohen Stufen oder bei stark kontrastierenden Oberflächen.

Unternehmensinformation

Polytec GmbH

Polytec-Platz 1-7
DE 76337 Waldbronn
Tel.: 07243 604-0
Fax: 07243 69944

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