Speicherfolienscanner HD-CR 35 NDT
Von der BAM zertifiziert
Speicherfolienscanner HD-CR 35 NDT
Der im April auf der Messe Aerospace Testing in Hamburg vorgestellte Speicherfolienscanner HD-CR 35 NDT von Dürr NDT, Bietigheim-Bissingen, wurde jetzt von der Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung BAM, Berlin, zertifiziert. Damit ist er nach Herstellerangaben der weltweit erste Speicherfolienscanner, mit dem sich Schweißnähte gemäß DIN EN 14784-1 und DIN EN 14784-2 prüfen lassen.
Die Vorteile eines Computer-Radiography(CR)-Systems gegenüber der konventionellen Nassfilmentwicklung sind eine kürzere Zeit zum Bild, Wegfall von Chemie und Entsorgung sowie digitales Bearbeiten, Filtern, Archivieren und Weitergeben der Bilddaten.
Das System zeichnet sich gegenüber seinen Mitbewerbern insbesondere durch die hohe Auflösung aus. So misst der abtastende Laserstrahl nach eigenen Angaben gerade einmal 12,5µm, was in Verbindung mit den ebenfalls zertifizierten Speicherfolien auf max. 35cm begrenzt ist. Sonst sind der zu verwendenden Speicherfolien-Länge oder -Breite keine Grenzen gesetzt.
Dürr NDT GmbH & Co.KG
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