nach oben
Meine Merkliste
Ihre Merklisteneinträge speichern
Wenn Sie weitere Inhalte zu Ihrer Merkliste hinzufügen möchten, melden Sie sich bitte an. Wenn Sie noch kein Benutzerkonto haben, registrieren Sie sich bitte im Hanser Kundencenter.

» Sie haben schon ein Benutzerkonto? Melden Sie sich bitte hier an.
» Noch kein Benutzerkonto? Registrieren Sie sich bitte hier.
Ihre Merklisten
Wenn Sie Ihre Merklisten bei Ihrem nächsten Besuch wieder verwenden möchten, melden Sie sich bitte an oder registrieren Sie sich im Hanser Kundencenter.
» Sie haben schon ein Benutzerkonto? Melden Sie sich bitte hier an.
» Noch kein Benutzerkonto? Registrieren Sie sich bitte hier.

« Zurück

Ihre Vorteile im Überblick

  • Ein Login für alle Hanser Fachportale
  • Individuelle Startseite und damit schneller Zugriff auf bevorzugte Inhalte
  • Exklusiver Zugriff auf ausgewählte Inhalte
  • Persönliche Merklisten über alle Hanser Fachportale
  • Zentrale Verwaltung Ihrer persönlichen Daten und Newsletter-Abonnements

Jetzt registrieren
Merken Gemerkt
06.03.2006

Röntgeninspektionssystem nanome|x

Umfassende 2D- und 3D-Prüfung

Röntgeninspektionssystem nanome|x

Röntgeninspektionssystem nanome|x

Das Röntgeninspektionssystem nanome|x wird von der phoenix|x-ray Systems + Services GmbH, Wunstorf, nun mit einer 180-kV-high-power-nanofocus-Röntgenröhre und einem 4-Megapixel-Detektor angeboten.

Der volldigitale Detektor bietet laut Hersteller eine hohe Auflösung und Bildqualität im Vergleich zu bisherigen 1,3-MPixel-Standardbildketten. Dies soll Vorteile insbesondere für die Inspektion mikroelektronischer Bauelemente wie CSPs, Mikro-BGAs, FlipChips und Ähnlichem bieten. Bei Einsatz der offenen nanofocus-Röhre wird nach eigenen Angaben erstmals eine totale Vergrößerung von > 20 000fach erreicht.

Die 180-kV-Röhre ist nach Herstellerangaben auch für die 3D-Computertomographie geeignet, da aufgrund der höheren Leistung nun auch Proben mit größeren Wandstärken durchstrahlt werden können. Dies soll insbesondere Anwendern im Bereich der Automobilelektronik, wo z. B. komplette Sensoren analysiert werden müssen, einen Mehrwert im Vergleich zu der standardmäßigen 160-kV-Röhre bringen.

In Kombination mit der 70°-ovhm-Technologie für Schrägdurchstrahlung bei höchster Vergrößerung und verschiedenen Software-Modulen beispielsweise für die vollautomatische Analyse von BGAs, QFPs, PTHs, MLFs, Bonddrähten, Die-Attach sowie Multilayer-Leiterplatten wurde somit eine Lösung für die umfassende zerstörungsfreie 2D- und 3D-Prüfung geschaffen, heißt es bei phoenix|x-ray. Außerdem stehen ein Reparaturarbeitsplatz und ein umfangreiches SPC-Software-Paket zur Verfügung.

Unternehmensinformation

GE Sensing & Inspection Technologies GmbH phoenix|x-ray

Niels-Bohr-Str. 7
DE 31515 Wunstorf
Tel.: 05031 172-124
Fax: 05031 172-299

Diese Beiträge könnten Sie auch interessieren
Newsletter

Sie wollen immer top-aktuell informiert sein? Dann abonnieren Sie jetzt den kostenlosen Newsletter!

Hier kostenlos anmelden

Beispiel-Newsletter ansehen