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08.01.2007

Röntgeninspektionssystem microme|x

Inspektion von Lötstellen

Das Röntgeninspektionssystem microme|x von phoenix|x-ray, Wunstorf, ist ein submicron-hochauflösendes System und stellt laut Hersteller die optimale wirtschaftliche Lösung für die manuelle oder automatische Lötstelleninspektion dar. Die automatische Prüfung von beispielsweie BGA, CSP, MLF und QFP erfolgt dabei über eine hochpräzise CNC-Steuerung.

Das System verfügt über eine integrierte 2-Megapixel-Digitalkamera und übertrifft somit den derzeit auf dem Markt existierenden Standard von 1,3 Megapixel deutlich, heißt es bei phoenix|x-ray. In Verbindung mit der offenen 160-kV- oder 180-kV-Submicron-Röntgenröhre kann dadurch eine Detailerkennbarkeit von < 1µm sowie eine totale Vergrößerung bis zum 13 300-fachen erzielt werden.

Mit der hochpräzisen Manipulationseinheit ist eine stufenlose Schrägdurchstrahlung bis zu 70° sowie eine Rotation von 0° bis 360° möglich. Die Durchlichtfläche des Geräts beträgt 18 x 14". Dadurch können Proben mit einer Größe von maximal 680 x 635mm und einem Gewicht von bis zu 5kg problemlos untersucht werden.

Die neue Inspektions-Software quality|assurance 2006, die auf die speziellen Bedürfnisse der Anwender zugeschnitten wurde, bietet nach Herstellerangaben eine einfache Bedienung und ermöglicht eine vielseitige volldigitale Bildauswertung. Darüber hinaus dient der leistungsstarke Algorithmenbaukasten XE2 der Lösung vielfältiger Mess- und Inspektionsaufgaben.

Unternehmensinformation

GE Sensing & Inspection Technologies GmbH phoenix|x-ray

Niels-Bohr-Str. 7
DE 31515 Wunstorf
Tel.: 05031 172-124
Fax: 05031 172-299

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