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07.01.2008

Röntgenfluoreszenzmessgerät Fischerscope X-Ray XDVM-P

Auf die Genauigkeit kommt es an

Röntgenfluoreszenzmessgerät Fischerscope X-Ray XDVM-P

Röntgenfluoreszenzmessgerät Fischerscope X-Ray XDVM-P

Zerstörungsfrei und berührungslos lässt sich die Dicke und Zusammensetzung von Beschichtungen mit dem Röntgenfluoreszenzmessgerät Fischerscope X-Ray XDVM-P von Helmut Fischer, Sindelfingen, bestimmen. Anwendung findet es z. B. in Massengalvanik-Betrieben mit hohem Teiledurchsatz bis hin zur Kontrolle von Hightech-Leiterplatten mit filigraner Oberfläche, die eine besonders präzise Positionierung des Messflecks erfordern.

Der Anwender legt das zu messende Teil ohne weitere Vorbereitungen auf den XY(Z)-Messtisch. Mit sehr hoher Geschwindigkeit fährt dieser von der Lade- in die Messposition und sorgt für einen raschen Teilewechsel. Auf seinem Monitor hat der Anwender das Farbvideobild der Messstelle genau im Blick, gezoomt bis zu 180-fach vergrößert. Mit einem Joystick lässt sich der primäre Röntgenstrahl exakt auf den Messpunkt positionieren – auf weniger als 5µm genau. Das Vollschutz-Gehäuse des Messkopfs verhindert, dass Strahlen austreten. Ein Strahlenschutzbeauftragter ist nicht erforderlich. Wechselbare Kollimatoren können den Messstrahl so fein bündeln, dass kleinste Messfleckgrößen ab 0,3x0,07mm Querschnitt möglich sind, was ideal zur Positionierung z. B. auf schmalen Leiterbahnen, Kontaktbändern oder Lötpads ist. Die Video-Draufsicht auf die Messstelle erfolgt in exakt senkrechter Perspektive, wodurch der Anwender die Abläufe der Messung sicher und komfortabel kontrollieren kann.

Programmierte Messabläufe sind ebenfalls möglich (z. B. bei der Leiterplatten-Herstellung). In Sekundenschnelle liegt das Messergebnis vor. Die Mess- und Steuer-Software WinFTM V.6 bietet laut Hersteller eine große, praxisgerechte Funktionsvielfalt, höchste Ergebnisgenauigkeit und einfache Bedienung, auch was die weitere Auswertung der Messergebnisse betrifft. Gespeicherte Protokollvordrucke können gewählt werden, sodass ein komplettes Messprotokoll inklusive Videobild und eigenem Firmenlogo ausgedruckt werden kann. WinFTM V.6 Basic kann bis zu 24 einzelne Kennwerte einer Probe bezüglich Schichtdicke und Elementkonzentration bei einer Messung gleichzeitig bestimmen. Sehr dünne Schichten bis hinab in den 10-Nanometer-Bereich sind messbar. Die Messgenauigkeit kann durch die Verwendung von bis zu 64 Kalibriernormalen pro Applikation auf ein Maximum erhöht werden. Für rückführbare Messergebnisse kann der Hersteller eine Vielzahl an Kalibriernormalen mit DKD-Kalibrierurkunde gemäß DIN EN ISO/IEC 17025 liefern.

Unternehmensinformation

Helmut Fischer GmbH Inst. Elektronik + Meßtechnik

Industriestr. 21
DE 71069 Sindelfingen
Tel.: 07031 303-0
Fax: 07031 303-79

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