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01.12.2008

Röntgenfluoreszenz (XRF)-Analysator X-MET5000

Niedrige Nachweisgrenze

Der Röntgenfluoreszenz (XRF)-Analysator X-MET5000 von Oxford Instruments, Wiesbaden, erlaubt eine präzise und zuverlässige Elementanalyse. Er beinhaltet die PentaFET- Detektortechnologie für eine schnelle Analyse und niedrige Nachweisgrenzen aller wichtigen Elemente.

Mit dem Leichtelement-Modus (Light Element Treatment – LET) des Analysators, ist laut Hersteller eine schnelle und genaue Analyse von schweren Elementen möglich, selbst wenn die Probe Aluminium oder Silizium enthält. Das robuste und zuverlässige Werkzeug hat die Gehäuseschutzklasse IP54 für einen hohen Schutz vor Staub und Spritzwasser. Die Betriebszeit des Akkus von einem Arbeitstag soll helfen, die Produktivität zu verbessern.

Die vom Anwender programmierbare Software liefert hochpräzise Ergebnisse für zuverlässige i.O./n.i.O.-Entscheidungen, so der Hersteller. Der Analysator erkennt dabei den Werkstoff und wählt automatisch das beste Analyseverfahren. Ein optionales Tischstativ erlaubt einen freihändigen Betrieb für besseres Multitasking, ohne dass dabei die Messergebnisse leiden.

Zu den anspruchsvollen Anwendungsbereichen in der Qualitätskontrolle gehören zum Beispiel Metallschrottrecycling, Analyse von Metallen und Screening auf Blei zum Test auf RoHS-Compliance.

Unternehmensinformation

Oxford Instruments Analytical GmbH

Wellesweg 31
DE 47589 Uedem
Tel.: 02825 9383-0
Fax: 02825 9383-300

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