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05.03.2007

Röntgenfluoreszenz - Analysator Maxxi 5/PIN

Mit Halbleiterdetektor

Maxxi 5/PIN heißt der Röntgenfluoreszens-Material- und Schichtdicken-Analysator von Röntgenanalytik Messtechnik, Taunusstein. Das System verfügt über einen hochauflösenden Silizium-Halbleiterdetektor und eignet sich laut Hersteller für Anwendungen, die beste Nachweisgrenzen und höchste Auflösung fordern.

Die hohe Detektorauflösung und das gute Signal-/Untergrundverhältnis ermöglichen das Analysieren und Vermessen dünner, komplexer Beschichtungen, beispielsweise an Solarpanels.

Die große, geschlitzte Probenkammer eignet sich nach Herstellerabgaben sowohl für großflächige Proben als auch für kleine Präzisionsteile.

Motorisierte und programmierbare Probentische in verschiedenen Abmessungen sollen das Anpassen des Systems an die Wünsche des Anwenders ermöglichen.

Mit der herstellereigenen Software X-Master R lassen sich Feststoffe, Flüssigkeiten und Mehrfach-Legierungsbeschichtungen analysieren. Außerdem ermöglicht ein Kalibriermodul das Erstellen von Messaufgaben nach Fundamentalparametern.

Das Messsystem kann nach Angaben des Herstellers in der Qualitätskontrolle, zur Wareneingangsprüfung und im Analyselabor eingesetzt werden.

Unternehmensinformation

Oxford Instruments Analytical GmbH

Wellesweg 31
DE 47589 Uedem
Tel.: 02825 9383-0
Fax: 02825 9383-300

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