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27.04.2009

Rasterkraftmikroskop AFM 3000

Neuartiger Messmodus

Rasterkraftmikroskop AFM 3000

Rasterkraftmikroskop AFM 3000

Laut Hersteller Breitmeier, Ettlingen, zeichnet sich das Rasterkraftmikroskop AFM 3000 durch hohe Stabilität und einen neuartigen Messmodus aus, bei dem nicht nur das Profil, sondern auch lokale Materialeigenschaften erfasst werden. Das Gerät hat eine Abtastfläche bis 1 mm2 und einen Chemical-Contrast-Imaging-Modus.

Rasterkraftmikroskope werden bisher fast ausschließlich im Forschungsbereich eingesetzt. Diese Instrumente haben atomare Auflösung und arbeiten im Gegensatz zu einem Elektronenmikroskop an Luft oder auch in Flüssigkeiten. Das AFM 3000 ist laut Hersteller das einzige an Luft arbeitende Profilometer, welches echte Nanometerauflösung erzielt, und zwar sowohl vertikal als auch lateral.

Neuartige Anwendungsgebiete in der Industrie sind nach Angaben des Herstellers das Bestimmen der Komposition von kratzfesten Lacken sowie die Untersuchung und Qualitätssicherung von ölverbrauchsoptimierten Motorzylindern. Ebenso lassen sich Beschichtungen zum Beispiel von Herzklappen und Polymeroberflächen (Stoßfänger) sowie Reibungseigenschaften untersuchen.

Unternehmensinformation

BTM Breitmeier Messtechnik GmbH

Englerstr. 24
DE 76275 Ettlingen
Tel.: 07243 60573
Fax: 07243 605759

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