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07.02.2003

Quantax

Mikroanalyse am REM

EDX-Analysen sind immer dann wichtig, wenn Mikrostrukturen am Rasterelektronenmikroskop (REM) eingehender untersucht werden sollen. Diese Methode weist sowohl die in einer Probe vorhandenen Elemente als auch ihre Konzentration nach. Das EDX-Gerät Quantax von Röntec kombiniert neueste Erkenntnisse auf dem Gebiet der Röntgenspektroskopie mit hohem Bedienkomfort. Es analysiert eine Vielzahl von Proben aus unterschiedlichen Bereichen, darunter keramische Werkstoffe, Pulver, Metalle oder Beschichtungen. Die Software bietet Routinen für die präzise Auswertung von rauen Oberflächen, aber auch für geschliffene und polierte Proben, wie sie üblicherweise in der EDX verwendet werden.

Eine völlig neue Anwendung ist der ColorScan-Modus, der mit der Geschwindigkeit eines SE-Bildeinzugs am Rasterelektronenmikroskop die Verteilung der Elemente des Periodensystems als farbcodierte Elementbilder darstellt. Diese Technik gibt Aufschluss über die Inhomogenität der Probe und ist damit eine wichtige Eingangsinformation für die exakte Messung. Zahlreiche Optionen wie LineScan, Element-Mapping, ColorSEM oder EBSD vertiefen die Analyse.

Ein weiterer Vorteil ist der stickstofffreie Betrieb des Röntgendetektors XFlash. Damit eröffnen sich Möglichkeiten für den Einsatz des Sys-tems in Reinraumlaboren und überall dort, wo bisher der Einsatz von flüssigem Stickstoff Probleme bereitete. Mit einer Energieauflösung von 127eV übertrifft der Detektor das Leistungspotenzial der gegenwärtig verwendeten, stickstoffgekühlten Si(Li)-Detektoren. Die Wartung und das wöchentliche Auffüllen mit flüssigem Stickstoff entfallen.

Das Gerät lässt sich an die REMs beliebiger Hersteller montieren. Das System wurde so optimiert, dass sich die Messzeit für die qualitative und quantitative Elementanalyse auf bis zu ein Zehntel reduziert.

Unternehmensinformation

RÖNTEC GmbH

Schwarzschildstr. 12
DE 12489 Berlin
Tel.: 030 670990-0
Fax: 030 670990-30

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