Merken 03.06.2003

P-721.CLQ

Nano-Focus-Scan-System

P-721.CLQ

Für Anwendungen wie z.B. Scanning-Mikroskopie, Zell-Tracking und Oberflächen-Profilmessung hat PI das Nano-Focus-Scan-System P-721.CLQ entwickelt. Dabei können die Einheiten zwischen Revolver und Objektiv jedes Standardmikroskops geschraubt werden und sind durch ein verbessertes Design jetzt noch leistungsfähiger und flexibler.

Das System ist mit direkt messenden Zweiplatten-Kapazitivsensoren ausgerüstet. Im Gegensatz zu konventionellen Systemen wird hier direkt die Position des bewegten Objektivs mit Nanometer-Präzision ermittelt. Die hohe Genauigkeit der berührungslosen Kapazitivsensoren und der temperaturkompensierte Aufbau ermöglichen eine höhere Stabilität, Linearität, Auflösung und Bandbreite. Vorteile für den Anwender sind schnellere Scans, ein höherer Datendurchsatz und eine höhere Bildqualität.
Zusätzlich ist das System mit reibungsfreien FEM-berechneten Flexureführungen ausgerüstet, deren große Basis für außerordentliche Führungsgenauigkeit sorgt. Wenn das Objektiv gescannt wird, bleibt dadurch der Fokuspunkt auf der Probe stabil.

Das QuickLock-Halterungssystem sorgt für eine schnelle Montage ohne langes Schrauben. Durch die Vielzahl der verfügbaren Gewindeoptionen können PIFOCs an jedes Mikroskop und Objektiv angebaut werden.
Eine große Auswahl an digitalen und analogen Controllern (modular, 19-Zoll, OEM-Board) für jede Anforderung steht zur Verfügung. Ein neuer digitaler NanoAutomation-Controller eliminiert Trackingfehler und verbessert die Linearität beim Scannen um zwei Größenordnungen.