nach oben
Meine Merkliste
Ihre Merklisteneinträge speichern
Wenn Sie weitere Inhalte zu Ihrer Merkliste hinzufügen möchten, melden Sie sich bitte an. Wenn Sie noch kein Benutzerkonto haben, registrieren Sie sich bitte im Hanser Kundencenter.

» Sie haben schon ein Benutzerkonto? Melden Sie sich bitte hier an.
» Noch kein Benutzerkonto? Registrieren Sie sich bitte hier.
Ihre Merklisten
Wenn Sie Ihre Merklisten bei Ihrem nächsten Besuch wieder verwenden möchten, melden Sie sich bitte an oder registrieren Sie sich im Hanser Kundencenter.
» Sie haben schon ein Benutzerkonto? Melden Sie sich bitte hier an.
» Noch kein Benutzerkonto? Registrieren Sie sich bitte hier.

« Zurück

Ihre Vorteile im Überblick

  • Ein Login für alle Hanser Fachportale
  • Individuelle Startseite und damit schneller Zugriff auf bevorzugte Inhalte
  • Exklusiver Zugriff auf ausgewählte Inhalte
  • Persönliche Merklisten über alle Hanser Fachportale
  • Zentrale Verwaltung Ihrer persönlichen Daten und Newsletter-Abonnements

Jetzt registrieren
Merken Gemerkt
26.04.2010

Optisches Messsystem HoloTop

Kontrolle mit 3D-Oberflächenholografie

Optisches Messsystem HoloTop

Optisches Messsystem HoloTop

HoloTop heißt ein optisches Messsystem, das eine kontaktlose, hochpräzise und schnelle 3D-Oberflächenvermessung von Bauteilen im Produktionsprozess verspricht. Die Entwicklung des Systems war ein Gemeinschaftsprojekt vom Fraunhofer IPM, Freiburg, sowie den Unternehmen Asentics, Siegen, BMT Breitmeier Messtechnik, Ettlingen, und LaserAnimation Sollinger, Berlin. Bei dem Messsystem kommt die Multi-Lambda-Digital-Holografie (MLDH) zum Einsatz. Das Messsystem ist nach Unternehmensaussage so robust und schnell, dass es bei der Qualitätskontrolle in der industriellen Produktion auch kleine Defekte erkennt und topografische Funktionsflächen hochpräzise erfasst. Insbesondere die Topografie rauer Objektoberflächen soll sich ohne Schärfentiefebegrenzung mit interferometrischer Genauigkeit messen lassen.

Mittels kohärenter Lichtquellen werden verschiedene virtuelle synthetische Wellenlängen genutzt. So soll ein breiter Messbereich vom Sub-µm- bis in den mm-Bereich erschlossen werden. Da die Auflösung und Reproduzierbarkeit des Messsystems vom Abstand der verwendeten Einzelwellenlängen und deren spektraler Stabilität abhängig sind, kommt es laut Entwickler auf die Auswahl und präzise Stabilisierung der Lichtquellen an. Die Lösung fand sich in der Verwendung einer oder mehrerer großer synthetischer Wellenlängen zum Entfalten der mit kleinerer synthetischer Wellenlänge rekonstruierten Phaseninformation. Das Messsystem kann mit eigenen Proben an den Messeständen getestet werden.

Unternehmensinformation

Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM

Heidenhofstr. 8
DE 79110 Freiburg
Tel.: 0761 8857-0
Fax: 0761 8857-224

Diese Beiträge könnten Sie auch interessieren
Newsletter

Sie wollen immer top-aktuell informiert sein? Dann abonnieren Sie jetzt den kostenlosen Newsletter!

Hier kostenlos anmelden

Beispiel-Newsletter ansehen