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01.07.2004

NanoTest-System

An Ort und Stelle scannen

Das NanoTest-System von Micro Materials, Wrexham/Großbritannien, (Vertrieb: L.O.T.-Oriel, Darmstadt) zur Untersuchung mechanischer Eigenschaften von Oberflächen und dünnen Filmen wurde mit einer neuen Profilometrie-Option ausgestattet.
Mit dem System werden Härte und E-Model mit der Nano-Indentation-Methode bestimmt, und für viskoelastische Proben erlaubt die Oszillations-Methode die Bestimmung des komplexen Moduls. Neben der reinen Quantifizierung ist die Begutachtung der Oberfläche mit optischer Mikroskopie oder AFM (Atomic Force Microscopie = Rasterkraft-Mikroskopie) von großer Bedeutung. Neben einem einfachen Mikroskop steht ein hochauflösendes Mikroskop mit bis zu 1000facher Vergrößerung für präzise Positionsbestimmung oder nachträgliche Inspektion des Messpunkts zur Verfügung. Als Ergänzung zum optischen Mikroskop kann ein Objektiv durch ein AFM ersetzt werden, womit die laterale Auflösung deutlich gesteigert wird. Zwei AFM-Köpfe stehen wahlweise zur Verfügung: Scanbereich 40 oder 200µm. Zum Imaging verfährt die Probe zwischen Indenter-Messkopf und Mikroskop-Einheit, mit einer Reproduzierbarkeit der Position von <&nbsp;1µm.
Mit dem neuen hochauflösenden Piezoprofiler entfällt laut Hersteller das Verfahren zwischen den unterschiedlichen Messköpfen. Unterhalb der Probe sitzt hierbei ein hochauflösender Piezoscanner, mit dem die Probe an Ort und Stelle gescannt werden kann. Die Indenter-Spitze mit dem kapazitiven Wegsensor selbst ist dabei das Messsystem. Damit kann direkt nach dem Indenter-Experiment an derselben Probenposition ein Oberflächenprofilscan, mit AFM-Auflösung, aufgenommen werden, ohne dass die Probe selbst zwischen Indenter- und Mikroskop- oder AFM-Messkopf verfahren werden muss. Da es sich um ein integriertes System handelt, müssen keine Abstriche bei der NanoIndentation-Messung auf Grund von verschlechterter Compliance befürchtet werden, wie es ansonsten bei AFM-basierenden Indentersystemen der Fall ist.

Unternehmensinformation

LOT-QuantumDesign GmbH

Im Tiefen See 58
DE 64293 Darmstadt
Tel.: 06151 8806-0
Fax: 06151 8966-67

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