NanoFocus µscan Pro
Inspektion von Leiterplatten
NanoFocus µscan Pro
Für die Qualitätsprüfung von Leiterplatten hat NanoFocus, Oberhausen, in Zusammenarbeit mit Kaitronic aus Taiwan das NanoFocus µscan Pro entwickelt. Die Basis bildet das Standardsystem des optischen 3D-Profilometers µscan. Kombiniert mit einer hinsichtlich Datenübertragung und Messfrequenz – nun bis zu 30kHz – optimierten Sensorbaureihe eignet sich das µscan Pro laut Hersteller für eine hochwertige und kosteneffiziente Platinenkontrolle. Das Gerät bietet demnach mit motorischen Achsen von bis zu 600mm Länge genügend Verfahrweg für die Inspektion von PCB-Units ohne vorherige Vereinzelung. Ein leicht zu bedienendes Softwaretool soll den schnellen Wechsel auf ein neues Boarddesign ermöglichen.
Typische Messaufgaben sind die geometrische Erfassung von gefüllten µvias und Vertiefungen zur Durchkontaktierung der Platine und der Leiterbahn. Ebenso lässt sich die Rauheit nach DIN EN ISO auf Leiterbahn und Trägermaterial bestimmen. Die dafür verwendeten chromatischen Sensoren lösen lateral Strukturen von bis zu 2µm und vertikal von bis zu 10nm auf. Robuster Aufbau und Kompletteinhausung des Geräts ermöglichen nach eigenen Angaben die Integration in die Produktionsumgebung. Die Messergebnisse werden nach zuvor definierten Parametern vollautomatisch ausgewertet und in einem Messprotokoll ausgegeben.
NanoFocus AG
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