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24.04.2003

ml inspector

Röntgeninspektion für Multilayer-Leiterplatten

ml inspector

ml inspector

Der ml inspector von phoenix|x-ray Systems zur zerstörungsfreien Untersuchung von unbestückten Leiterplatten mittels Mikrofocus-Röntgentechnik wurde grundlegend überarbeitet, so dass die bisher im halbautomatischen Modus vorhandenen Funktionen nun vollautomatisch zur Verfügung stehen. Bedienungskomfort und Genauigkeit des Prüfvorgangs wurden in folgenden Punkten verbessert: neues Manipulationssystem mit noch höherer Präzision, vollautomatische Bestimmung der Lagenversätze und der Restringbreiten inklusive Gut-Schlecht-Unterscheidung, optionale Datenbankanbindung zur Prozesskontrolle (die Daten können zur Kontrolle der Bohrkoordinaten verwendet werden) und umfangreiches Software-Paket zur weiteren Analyse und statistischen Auswertung der Messdaten. Der stark erhöhte Funktionsumfang in Kombination mit der hochpräzisen, CNC-gesteuerten Manipulationseinheit erlauben einen außergewöhnlich hohen Automatisierungsgrad bei der produktionsnahen Leiterplattenuntersuchung und somit einen großen Durchsatz bei geringem Einsatz von Arbeitskräften.

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