Merken 01.12.2009

Mikro-RFA-Spektrometer Spectro Midex

Für schnelle Punktanalysen

Mikro-RFA-Spektrometer Spectro Midex

Die dritte Produktgeneration des Mikro-RFA-Spektrometers Spectro Midex wurde von Spectro Analytical Instruments, Kleve, verbessert und präsentiert sich jetzt laut Hersteller noch schneller, leistungsfähiger und flexibler als seine Vorgänger. So eignet es sich demnach für das RoHS-Compliance-Screening und Untersuchungen von kleinen Proben sowie Einschlüssen in Glas und Metall.

Das neue Modell wurde aus den Vorgängermodellen Midex und Midex M zusammengeführt und ist ein RFA-Gerät mit luftgekühlter Kleinleistungsröntgenröhre und Mikrofokus. Die Anregung erfolgt punktuell über softwaregesteuerte Kollimatoren. Die Größe des Messpunkts lässt sich optional in Schritten zwischen 200 Mikrometer und 4 Millimeter einstellen. Der neue Silizium-Drift-Detektor in der aktuellen Modellvariante verarbeitet bis zu 250 000 Impulse pro Sekunde. Dadurch scannt das neue Midex in der Mikroelektronik eine Europakarte (Standardmaß für Leiterplatten) in 30 Minuten, und bei Punktanalysen ermittelt es in zwei Minuten die komplette Zusammensetzung einer Probe. Außerdem liefert der stärkere Detektor selbst bei einem Arbeitsabstand von 20 Millimetern noch genaue Ergebnisse, so der Hersteller.

Das Gerät richtet sich unter anderem an die Elektro- und Elektronikbranche sowie die Automobil- und Luftfahrtindustrie. Es können nach Herstellerangaben verschieden hohe Bauteile einer montierten Leiterplatte untersucht werden, ohne die Platine zu beschädigen. Auch lassen sich demnach zerstörungsfrei Einschlüsse in lackierten Automobilbauteilen prüfen.