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03.09.2007

Messmikroskop TMS-1200 TopMap

Topografie- und Ebenheitserfassung

Das TMS-1200 TopMap µ.Lab von Polytec, Waldbronn, ist ein Messmikroskop auf Basis der TopMap-Interferometer-Technologie. Es dient der flächenhaften und hochauflösenden optischen Erfassung der 3D-Topografie von Oberflächen und der Bestimmung abgeleiteter Parameter wie Ebenheit, Welligkeit und Rauheit.

Die Messung erfolgt berührungslos und damit gegenüber taktiler Messtechnik rückwirkungs- und zerstörungsfrei. Laut Hersteller kann die Struktur von rauen und spiegelnden Oberflächen mit dem Komplettsystem einfach und schnell erfasst werden. Eine spezielle Präparation der Oberfläche ist demnach nicht erforderlich, denn selbst bei extremen Kontrastverhältnissen soll die Smart-Surface-Scan-Technologie ein problemloses Messen ermöglichen.

Das Gerät arbeitet nach dem Prinzip der Weißlicht-Interferometrie mit einer Auflösung im Nanometerbereich. Da die komplette Fläche in einem Messvorgang erfasst und nicht aus einzelnen Linien zusammengesetzt wird, kann eine Messung häufig in wenigen Sekunden durchgeführt werden.

Das Ergebnis lässt sich am Bildschirm interaktiv oder automatisiert mithilfe der TMS-Software auswerten. Die komplett offen gelegte Automatisierungsschnittstelle ermöglicht nach Herstellerangaben eine Kontrolle des Mess- und Auswertevorganges aus anderen Applikationen heraus.

Unternehmensinformation

Polytec GmbH

Polytec-Platz 1-7
DE 76337 Waldbronn
Tel.: 07243 604-0
Fax: 07243 69944

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