Messanlage Thicknesscontrol 8315
In der Produktionslinie
Messanlage Thicknesscontrol 8315
Für die Inline-Dickenmessung von nichttransparenten Platten und Bahnen, wie beispielsweise Spann- und Mineralplatten oder Schaumstoffbahnen, entwickelte Micro-Epsilon Messtechnik, Ortenburg, die Messanlage Thicknesscontrol 8315. Sie wird in der Produktionslinie zur Qualitätssicherung und Prozesskontrolle eingesetzt.
Laseroptische Wegsensoren mit einem sehr großen Grundabstand zum Messobjekt sollen einen möglichst großen Durchlass für die Materialbahn ermöglichen. So will der Hersteller eine hohe Prozesssicherheit gewährleisten.
Gemessen wird von einer Seite gegen das Bahn- oder Plattenmaterial. Die andere Seite des Messguts liegt auf einer Referenzfläche auf, die zuvor vermessen und als Kalibrierung hinterlegt wurde.
Mechanische Grundlage der Messanlage ist ein temperaturinvarianter Kompensationsrahmen. Er soll in Verbindung mit effizienten Algorithmen einen von Temperaturschwankungen oder mechanischen Verwindungen unabhängigen Messspalt sichern.
Die Anlage kann für Traversierbreiten bis zu 6000mm und Traversiergeschwindigkeiten bis zu 0,2m/s ausgelegt werden. Mit den laseroptischen Wegsensoren sind Messraten bis zu 5kHz bei einer Auflösung unter einem Mikrometer möglich. Der Dickenmessbereich umfasst bis zu 50mm.
Micro-Epsilon Messtechnik GmbH & Co. KG
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