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03.11.2003

LSM 5 Pascal

Berührungslose 3D-Materialanalyse

Carl Zeiss stellt eine neue Version des konfokalen Laser-Scanning-Mikroskops LSM 5 Pascal für die Materialforschung und Qualitätskontrolle vor. Das System bietet noch mehr Funktionen für die quantitative Oberflächenanalyse und Materialcharakterisierung.

Zusammen mit einem der neuen Mikroskopstative Axioskop2MAT, Axiovert200MAT und Axiotron2 ermöglicht das Mikroskop die berührungslose 3D-Materialanalyse auch für großflächige oder unförmige Proben. Zudem können mit Piezotechnologie Höhenstufen im Nanometerbereich gemessen werden.

Mit der neuen Software StitchArt sind hochaufgelöste Aufnahmen langer Profile und ausgedehnter Topographien bis über ein Hundertfaches des mikroskopischen Scanfelds hinaus möglich. Der Anwender kann beispielsweise zusammengesetzte Höhenprofile über große Messstrecken aufnehmen und vermessen. Die Option StitchArt passt das Aufnahmeformat der Applikation unter anderem bei der Rauheits- und Welligkeitsanalyse an.

Ein erweitertes Topographie-Paket ermöglicht eine verbesserte berührungslose optische 2D- und 3D-Oberflächen-analyse.

Unternehmensinformation

Carl Zeiss Jena GmbH Marketingservice OEM 3/G29

Tatzendpromenade 1
DE 07740 Jena
Tel.: 03641 64-2879
Fax: 03641 64-2602

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