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30.10.2007

Laser-Scanning- Mikroskop-System LSM 5 Exciter

3D-Charakterisierung von Oberflächen

Laser-Scanning- Mikroskop-System LSM 5 Exciter

Laser-Scanning- Mikroskop-System LSM 5 Exciter

Mit dem Laser-Scanning-Mikroskop-System LSM 5 Exciter ermöglicht Carl Zeiss MicroImaging, Jena, die konfokale Mikroskopie verschiedener Werkstoffoberflächen. Unter anderem ist es möglich, relativ weiche Werkstoffe wie Polymere dreidimensional zu charakterisieren.

Von den Proben werden optische Schnitte aufgenommen, wenn nötig mit einer Dicke von nur 10nm. Die LSM-Software verarbeitet die einzelnen Aufnahmen und stellt die gemessene Oberfläche als zwei- oder dreidimensionale Topografie dar. Damit können Rauheiten und Welligkeiten bestimmt sowie Porositäten und Volumengehalt gemessen werden. Zusätzlich besteht die Möglichkeit, sowohl im Reflexions- als auch im Fluoreszenzlicht zu arbeiten.

Mit der StichArt-plus-Option lässt sich das Messfeld bis zu 830-fach vergrößern. Extralange Linienprofile oder Bildstapel-Arrays mit variablen Überlappungsbereichen können automatisiert aufgenommen werden. Die Option ermöglicht ebenfalls Autofokus, automatische Kontrast- und Helligkeitsoptimierung sowie präzise Korrektur der Restbildwölbung des Objektivs in erster Ordnung. Das System wird in Kombination mit den Mikroskopstativen Axio Imager und Axio Observer angeboten.

Unternehmensinformation

Carl Zeiss Microscopy GmbH

Carl-Zeiss-Promenade 10
DE 07745 Jena
Tel.: 03641 64-0
Fax: 03641 64-2078

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