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03.03.2009

Laser-Scanning-Mikroskop LSM 700/mat

Genaue 3D-Erfassung

Laser-Scanning-Mikroskop LSM 700/mat

Laser-Scanning-Mikroskop LSM 700/mat

Für die materialwissenschaftliche Forschung hat Carl Zeiss MicroImaging, Jena, das Laser-Scanning-Mikroskop LSM 700/mat entwickelt, mit dem Oberflächen hochgenau und dreidimensional abgebildet und vermessen werden können. Durch die Kombination von Fluoreszenz- und Reflexionsverfahren werden mikroskopische Untersuchungen an Halbleitern, Metall, Glas und Polymeren mit hoher Präzision und Aussagekraft möglich. Die dabei realisierte Detektion von Fluoreszenzsignalen an bzw. in Materialien liefert zusätzliche Informationen.

Der Hersteller verspricht ein einfach zu bedienendes System, welches genaue Messungen, wie zum Beispiel die Erfassung der 3D-Topografie und die Bestimmung feinster Rauheiten, zulässt, ohne dabei die Oberfläche zu beschädigen. Eine weitere Eigenschaft ist die hohe Reproduzierbarkeit der Messwerte auch von relativ weichen Oberflächen wie Polymeren.

In Kombination mit der Software Axio Imager und Axio Observer sollen verschiedene Konfigurationen möglich sein: Damit können unterschiedliche Kontrastverfahren wie Hellfeld, Dunkelfeld sowie der polarisationsoptische und der Interferenzkontrast, aber auch der Polarisations- und der Fluoreszenzkontrast angewendet werden.

Unternehmensinformation

Carl Zeiss Microscopy GmbH

Carl-Zeiss-Promenade 10
DE 07745 Jena
Tel.: 03641 64-0
Fax: 03641 64-2078

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