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02.09.2002

GX-Serie

Inverse Mikroskope

GX

GX

Eine neue Reihe von inversen Mikroskopen für die Materialforschung mit hochleistungsfähiger, unendlich korrigierter UIS-Optik und sämtlichen für Dokumentationszwecke notwendigen Funktionen hat Olympus auf der Control 2002 vorgestellt.

Der modulare Aufbau der inversen Mikroskope aus der Serie GX ermöglicht dem Anwender die Adaption digitaler Kameras oder Videokameras für die Bildübertragung zu einem Videomonitor oder PC. Es können auch Kleinbild- und Großformat-Kameras adaptiert werden. Messungen der Korngröße, mikrostrukturelle Untersuchungen und ähnliche Anwendungen können mit Hilfe von vielseitiger Software gespeichert und archiviert werden. Die spezielle Kondensoroptik sorgt für geringe Lichtverluste und eine gleichmäßige Ausleuchtung des Präparats. Sie liefert in Verbindung mit dem UIS-Optik-System scharfe, kontrastreiche und detailgetreue Bilder mit gleich bleibend hoher Bildschärfe bei sämtlichen Mikroskopieverfahren. Die Mikroskope können mit 100W-Halogenlampen, 75W-Xenon-, 50W-Metal Halide- oder 100W-Quecksilberdampflampen ausgestattet werden. Drei verschiedene DIC-Prismentypen ermöglichen die Optimierung von Kontrast und Auflösung für die verbesserte Darstellung von Oberflächenmerkmalen der verschiedenen Objekte.

Das Modell GX51 eignet sich für Untersuchungen und Inspektionen im Dunkelfeld und Hellfeld, das System GX71 ermöglicht zusätzlich über Fluoreszenz- und Infrarotbeobachtung und verfügt über eine verstellbare Zoomfunktion und eine Sehfeldzahl von 26,5.

Unternehmensinformation

Olympus Deutschland GmbH Microscope National

Wendenstr. 14-18
DE 20097 Hamburg
Tel.: 040 23773-0
Fax: 040 230817

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