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26.04.2010

Fibermetric-System

Ergebnisse in Minutenschnelle

Fibermetric-System

Fibermetric-System

Das Fibermetric-System wurde von der FEI Company, Hillsboro/Oregon, entwickelt (Vertrieb über L.O.T.-Oriel, Darmstadt), um die Struktur und Anzahl von synthetischen Woven- und Non-woven-Fasern schnell zu analysieren. Mikro- und Nanofasern sollen sich damit innerhalb von Minuten beobachten und hochgenau vermessen lassen. Das Fibermetric-System ist laut Hersteller die erste integrierte "Turnkey"-Lösung, die eine automatisierte Dokumentation und Vermessung ermöglicht. Zum Einsatz kommt es in der Entwicklung und Qualitätssicherung, um Anzahl, Dicke und Richtung von Fasern sowie die Anzahl und Größe von Poren direkt zu ermitteln, so der Hersteller. Das System sammelt bis zu 100 000 Messungen pro Bild. Es basiert auf dem Elektronenmikroskop Phenom, das sich durch intuitive Bedienung und ultraschnelle Proben-Schleusungszeit auszeichnen soll. Phenom bietet mit einer physikalischen Auflösung von 4,9 nm/Pixel eine maximal 24.000-fache Vergrößerung.

Unternehmensinformation

LOT-QuantumDesign GmbH

Im Tiefen See 58
DE 64293 Darmstadt
Tel.: 06151 8806-0
Fax: 06151 8966-67

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