nach oben
Meine Merkliste
Ihre Merklisteneinträge speichern
Wenn Sie weitere Inhalte zu Ihrer Merkliste hinzufügen möchten, melden Sie sich bitte an. Wenn Sie noch kein Benutzerkonto haben, registrieren Sie sich bitte im Hanser Kundencenter.

» Sie haben schon ein Benutzerkonto? Melden Sie sich bitte hier an.
» Noch kein Benutzerkonto? Registrieren Sie sich bitte hier.
Ihre Merklisten
Wenn Sie Ihre Merklisten bei Ihrem nächsten Besuch wieder verwenden möchten, melden Sie sich bitte an oder registrieren Sie sich im Hanser Kundencenter.
» Sie haben schon ein Benutzerkonto? Melden Sie sich bitte hier an.
» Noch kein Benutzerkonto? Registrieren Sie sich bitte hier.

« Zurück

Ihre Vorteile im Überblick

  • Ein Login für alle Hanser Fachportale
  • Individuelle Startseite und damit schneller Zugriff auf bevorzugte Inhalte
  • Exklusiver Zugriff auf ausgewählte Inhalte
  • Persönliche Merklisten über alle Hanser Fachportale
  • Zentrale Verwaltung Ihrer persönlichen Daten und Newsletter-Abonnements

Jetzt registrieren
Merken Gemerkt
12.01.2004

E-Line easyScan-AFM

Oberflächen zerstörungsfrei prüfen

Das industrietaugliche Rasterkraftmikroskop E-Line easyScan-AFM der Schaefer Technologie GmbH, Langen, zeichnet sich laut Hersteller durch seine einfache Handhabung und die kompakte Bauform aus. Zur Überprüfung der Oberflächenbeschaffenheit kann der Mikroskopkopf auf beliebig großen Flächen positioniert werden und liefert dabei dreidimensionale Topographiedaten mit der Auflösung von ca. 1nm in allen drei Raumrichtungen. Das Abbildungsverfahren ist auf Grund der geringen Auflagekraft des Sensors zerstörungsfrei und wird zur Qualitätskontrolle von Oberflächen und Mikrostrukturen verschiedenster Art eingesetzt.

Unternehmensinformation

Schaefer Technologie GmbH

Robert-Bosch-Str. 31
DE 63225 Langen
Tel.: 06103 30098-0
Fax: 06103 30098-29

Diese Beiträge könnten Sie auch interessieren
Newsletter

Sie wollen immer top-aktuell informiert sein? Dann abonnieren Sie jetzt den kostenlosen Newsletter!

Hier kostenlos anmelden

Beispiel-Newsletter ansehen