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Das industrietaugliche Rasterkraftmikroskop E-Line easyScan-AFM der Schaefer Technologie GmbH, Langen, zeichnet sich laut Hersteller durch seine einfache Handhabung und die kompakte Bauform aus. Zur Überprüfung der Oberflächenbeschaffenheit kann der Mikroskopkopf auf beliebig großen Flächen positioniert werden und liefert dabei dreidimensionale Topographiedaten mit der Auflösung von ca. 1nm in allen drei Raumrichtungen. Das Abbildungsverfahren ist auf Grund der geringen Auflagekraft des Sensors zerstörungsfrei und wird zur Qualitätskontrolle von Oberflächen und Mikrostrukturen verschiedenster Art eingesetzt.
