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01.09.2003

D8 Discover Serie II

Röntgenanalytik

Röntgendiffraktometer D8 Discover der Serie II

Röntgendiffraktometer D8 Discover der Serie II

Mit dem Röntgendiffraktometer D8 Discover der Serie II stellt Bruker AXS eine neue Lösung für die Dünnfilmanalytik mit Röntgenreflexion und -diffraktion vor. Mit dem Gerät lassen sich dünne Schichten analysieren, insbesondere für die Materialforschung in der Halbleiterindustrie. Die neue Serie soll laut Hersteller den Herausforderungen der Nano-Welt gewachsen sein: von der Qualitätskontrolle, über die Produkt- und Prozessentwicklung bis hin zur Grundlagenforschung.

Aufbauend auf der Familie der D8 Röntgendiffraktometer enthält die Serie II verschiedene neue Entwicklungen. So sollen die zentrische Eulerwiege, der motorisierte Reflektometrieprobenträger, der Zeta-Xi-Kipptisch und der Wafer-Handler das Probenhandling verbessern. Röntgenoptiken wie Pathfinder und motorisierter 4-fach Absorberwechsler vereinfachen das Justieren und erhöhen die Flexibilität bei umfassenden Analysen. Mit den Software-Modulen XRD Wizard und XRD Commander erweitern sich die Messmöglichkeiten.

Unternehmensinformation

Bruker AXS Advanced X-ray Solutions GmbH

Östliche Rheinbrückenstr. 49
DE 76187 Karlsruhe
Tel.: 0721 509970

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