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27.04.2006

Computertomograph nanotom

Mit Submikrometerauflösung

Kompaktsystem nanotom

Kompaktsystem nanotom

Anfang Januar hat die phoenix|x-ray Systems + Services GmbH, Wunstorf, ihre Palette der höchstauflösenden Computertomographen um das Kompaktsystem nanotom ergänzt. Hierbei handelt es sich laut Hersteller um das erste 160-kV-Nanofocus-Computertomographiesystem, das auf Applikationen in der Materialwissenschaft, Mikromechanik, Elektronik und Biologie zugeschnitten ist. Der Aufbau von Manipulation, Detektor und Röntgenröhre ist für die höchstauflösende Computertomographie ausgelegt. Das kompakte System verfügt über einen granitgelagerten CT-Aufbau mit einer 160-kV-High-Power-Nanofocus-CT-Röhre und einen speziellen Detektor. Die Voxelauflösung wird mit < 500 nm angegeben. Der eingesetzte volldigitale Detektor verfügt über 5 Megapixel und eine Messbereichserweiterung für höchstmögliche Bildauflösung und Vergrößerung. Es lassen sich Proben bis zu 120 mm Durchmesser und mit einem Gewicht bis zu 1 kg untersuchen. Die besondere Türkonstruktion sowie ein justierbarer Probenhalter erlauben nach eigenen Angaben eine leichte und präzise Positionierung der Probe. Die herstellereigene CT-Software datos|x ermöglicht eine einfache und intuitive Bedienung. Ein optional erhältlicher PC-Cluster steigert die Rechenleistung. Das System ist geeignet für die 3D-Untersuchung von Sensoren, komplexen mechatronischen Proben, mikroelektronischen Komponenten und Materialproben wie Kunststoffen, Keramiken und Verbundmaterialien.

Unternehmensinformation

GE Sensing & Inspection Technologies GmbH phoenix|x-ray

Niels-Bohr-Str. 7
DE 31515 Wunstorf
Tel.: 05031 172-124
Fax: 05031 172-299

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