Compact-REM JCM-5700 Carryscope
Plastische Darstellung
Das Compact-REM JCM-5700 Carryscope von Jeol, Eching, ist ein transportables Rasterelektronenmikroskop (REM), das zur Qualitätssicherung an der Produktionslinie eingesetzt wird. Ausgestattet mit einem neuartigen Rückstreuelektronendetektor liefert das REM bereits bei geringen Spannungen eine hervorragende Bildqualität, so der Hersteller. Dieser Detektor verfügt neben dem Compo-Modus (Zusammensetzung) und dem Topo-Modus (Oberflächentopografie) auch über den Shadow-Modus, der eine plastische Darstellung gewährleisten soll. Das REM bietet eine Auflösung von bis zu 5 nm (bei 20 kV) und besitzt außerdem den Sekundärelektronendetektor.
Isolierende Proben lassen sich durch den optional verfügbaren Niedervakuum-Modus ohne weitere Vorpräparation durchführen. Innerhalb weniger Minuten ist es möglich, ein hochauflösendes REM-Bild beziehungsweise eine Elementanalyse anzufertigen.
Das Gerät zeichnet sich nach Herstellerangaben durch hohe Benutzerfreundlichkeit aus. Anwender erhalten am PC Abbildungen und Analysen zur Qualitätssicherung und Schadenanalyse. Das Produkt verfügt über vorprogrammierte Rezepte, Automatikfunktionen und definierbare Schritte für reproduzierbare Analysen. Ein integrierter Reportgenerator erleichtert das Erstellen standardisierter Analyseprotokolle.
JEOL (Germany) GmbH
Sie wollen immer top-aktuell informiert sein? Dann abonnieren Sie jetzt den kostenlosen Newsletter!
