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23.08.2013

BTX Profiler Röntgendiffraktometrie- und Röntgenfluoreszenzanalyse-Gerät von Olympus

Kombination für Materialanalyse

BTX Profiler

Das BTX Profiler ist ein von Olympus, Hamburg, entwickeltes Tischgerät, das die Röntgendiffraktometrie (X-ray diffraction, XRD) und die Röntgenfluoreszenzanalyse (X-rayfluorescence, XRF/RFA) in einem Gerät vereint.

Es kombiniert diese Methoden und liefert sowohl die strukturelle als auch die elementare Zusammensetzung.

Aufgrund dieser Kombination sieht das Unternehmen das Gerät als sehr wirtschaftlich, platz- und zeitsparend an. Im Gegensatz zu konventionellen Diffraktometriesystemen soll es Ineffizienzen reduzieren. Durch eine auf engstem Raum gekoppelte Transmissions-Geometrie sollen nur eine geringe Röhrenleistung und minimale Probenmengen nötig sein.

Zum Probenhandling gehört ein patentiertes Vibrationssystem, das die Kristalle in einer festen Probenzelle in eine zufällige Anordnung bringt. Der CCD-Detektor liefert zweidimensionale, grafische Beugungs- oder Ringmuster und soll mehr Daten in kürzerer Zeit als konventionelle Röntgendiffraktometrie-Detektoren erfassen.

Die energiedispersive Röntgenfluoreszenztechnologie im Analysator verbindet wählbare, optimierte Strahlenergien der Miniaturröntgenröhre und Spezialfilter mit der platzsparenden Anordnung von Probe und Detektor. Dadurch soll ein weiter Bereich an Elementen und Konzentrationen gemessen werden können. Durch die Kombination aller Merkmale sieht der Hersteller die Betriebskosten, sowie die Messzeit verringert.

Eingesetzt wird das Gerät beispielsweise in der Pharmaindustrie, der Katalysatorherstellung sowie in Forschung und Lehre.

Olympus Deutschland GmbH
www.olympus.de/industrie

Unternehmensinformation

Olympus Deutschland GmbH Microscope National

Wendenstr. 14-18
DE 20097 Hamburg
Tel.: 040 23773-0
Fax: 040 230817

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