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01.08.2019

Bildverarbeitung im Mikrometerbereich

Die Kistler Gruppe, Winterthur/Schweiz, bietet mit KiVision eine Bildverarbeitungssoftware für komplexe Prüfaufgaben an. Sie ist in allen Prüfstationen von Kistler integriert, kommt aber auch außerhalb der Prüfautomation zum Einsatz und ist mit anderen Messsystemen von Kistler kombinierbar. Dank optimierter Algorithmen können Genauigkeitsanforderungen im Mikrometerbereich erfüllt und der Durchsatz bei der Serienproduktion gesteigert werden. Bei Stanzautomaten etwa sind Frequenzen von 1800 Hub pro Minute heute keine Seltenheit. Das bedeutet, dass nur circa 30 Millisekunden für Bildaufnahme und -auswertung verbleiben.

Eine intuitive Benutzeroberfläche, viele gut strukturierte Prüfbefehle und visualisierbare Parameter befähigen die Bildverarbeitungssoftware, Prüfaufgaben für komplett neue Teile selbstständig einzulernen. Komplexe Prüfsequenzen, die vor allem bei Auflichtaufgaben anfallen, lassen sich durch wiederverwendbare Unterprogramme und Funktionsblöcke deutlich vereinfachen. Mit dem Frontend-Designer kann jeder Anwender ein für seine Applikation passendes Prüfdisplay per Drag-and-Drop zusammenstellen. Er entscheidet selbst, welche Kamerabilder, Messwerte oder Zähler er auf dem Display sehen will. Die erweiterungsfähige Bildverarbeitungssoftware unterstützt zudem alle wichtigen Kameraschnittstellen und Feldbusse. Anwender können Spezialsensoren oder eigene Algorithmen mit dem KiVision Software Development Kit einbinden, ohne eigene Algorithmen offenlegen zu müssen.

Die Software unterstützt das asynchrone Handling der Prüfautomaten – etwa mit virtuellen Teilnummern, die helfen, zeitlich auseinanderliegende, aber zusammengehörige Bilder dem richtigen Prüfteil zuzuordnen. Damit trägt KiVision dazu bei, dass fehlerhafte Teile unter keinen Umständen – auch nicht in Störsituationen – im Behälter für i.O-Teile landen.

www.kistler.com

Unternehmensinformation

Kistler Instrumente AG

Eulachstr. 22
CH 8408 WINTERTHUR
Tel.: +41 52 2241111
Fax: +41 52 2241414

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