nach oben
Meine Merkliste
Ihre Merklisteneinträge speichern
Wenn Sie weitere Inhalte zu Ihrer Merkliste hinzufügen möchten, melden Sie sich bitte an. Wenn Sie noch kein Benutzerkonto haben, registrieren Sie sich bitte im Hanser Kundencenter.

» Sie haben schon ein Benutzerkonto? Melden Sie sich bitte hier an.
» Noch kein Benutzerkonto? Registrieren Sie sich bitte hier.
Ihre Merklisten
Wenn Sie Ihre Merklisten bei Ihrem nächsten Besuch wieder verwenden möchten, melden Sie sich bitte an oder registrieren Sie sich im Hanser Kundencenter.
» Sie haben schon ein Benutzerkonto? Melden Sie sich bitte hier an.
» Noch kein Benutzerkonto? Registrieren Sie sich bitte hier.

« Zurück

Ihre Vorteile im Überblick

  • Ein Login für alle Hanser Fachportale
  • Individuelle Startseite und damit schneller Zugriff auf bevorzugte Inhalte
  • Exklusiver Zugriff auf ausgewählte Inhalte
  • Persönliche Merklisten über alle Hanser Fachportale
  • Zentrale Verwaltung Ihrer persönlichen Daten und Newsletter-Abonnements

Jetzt registrieren
Merken Gemerkt
09.04.2015

3D-Oberflächenmesssysteme von Nanofocus

Oberflächen inline messen

3D-Oberflächenmesssysteme (Foto: Nanofocus)

Die voll automatisierbaren konfokalen 3D-Oberflächenmesssysteme von Nanofocus, Oberhausen, können direkt in Fertigungsanlagen zur 100-Prozent-Kontrolle integriert werden. Sie eignen sich auch für Stichprobenkontrollen bei Einzel- und Serienmessungen. Komplexe Messstrategien und Auswertungen lassen sich mit der Automatisierungssoftware µsoft automation kundenspezifisch konfigurieren. Die Messdaten werden direkt in vordefinierte Ergebnisprotokolle überführt oder über zahlreiche Datenschnittstellen (z. B. SECS-GEM Interface) exportiert. Damit stehen sie für Soll/Ist-Vergleiche zur Verfügung oder können für weitere Auswertungen an qs-Stat, Matlab, verschiedene Datenbanken oder SPC-Charts übergeben werden. Bei Serienmessungen entfällt der Anwendereingriff durch Funktionen wie Passmarkenerkennung, automatisiertes Alignment und Messbereichsnachführung. Die Unterstützung von Wafer-Map-Importen oder OCR/DDM/Bar Code Reading erfüllt gängige Industriestandards zur Produktidentifikation. Für eine optimierte Dokumentation werden Messdaten dauerhaft in einer datenbankbasierten Auswertungsbibliothek gespeichert und können damit zur statistischen Prozesskontrolle genutzt werden. Der Hersteller hat automatisierte Messanlagen bei verschiedenen Herstellern in Betrieb genommen. Dazu zählen u. a. die Messung von Mikro-Schweißnähten und kritischen Oberflächen , und die vollautomatische Wafer-Inspektion u.

Nanofocus AG
www.nanofocus.de
Control, Halle 7, Stand 7318

Unternehmensinformation

NanoFocus AG

Max-Planck-Ring 48
DE 46049 Oberhausen
Tel.: 0208 62000-0
Fax: 0208 62000-99

Diese Beiträge könnten Sie auch interessieren
Newsletter

Sie wollen immer top-aktuell informiert sein? Dann abonnieren Sie jetzt den kostenlosen Newsletter!

Hier kostenlos anmelden

Beispiel-Newsletter ansehen