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18.06.2013

3D-Laser-Scanning-Mikroskop LEXT OLS4100 von Olympus

Verbesserte Panoramadarstellung

3D-Laser-Scanning-Mikroskop LEXT OLS4100

LEXT OLS4100 ist ein weiteres Modell der opto-digitalen Mikroskopsysteme von Olympus, Hamburg. Das 3D-Laser-Scanning-Mikroskop soll einen schnelleren und einfacheren Zugang zur optischen Metrologie bieten. Dazu hat der Hersteller optische Präzision mit der intuitiven Bedienbarkeit einer digitalen Benutzeroberfläche
kombiniert.

Proben von unterschiedlicher Größe sollen sich mühelos analysieren lassen. Die Navigation auf der Probe soll auch bei starker Vergrößerung unkompliziert möglich sein, da stets eine mit geringer Vergrößerung erfasste Weitfeld-Übersichtsdarstellung der Probe angezeigt wird. Darüber hinaus wurde das Sehfeld durch Aktualisierung der Stitching-Funktionen erweitert. Aus zahlreichen Einzelaufnahmen wird ein einzelnes Bild konstruiert, das anschließend in 2D oder 3D angezeigt und vermessen werden kann. Die Grenzen des Stitching-Bereichs werden automatisch erkannt. Alternativ kann der genaue Bereich auch manuell durch Umfahren der Probe in beliebiger Form festgelegt werden. Für Bildaufnahmen stehen mehrere Scanning-Modi zur Verfügung. Durch automatische Einstellung der Position entlang der Z-Achse wird die Bildaufnahme im Smart-Scan-Modus auf die Fokusebene beschränkt, wodurch schnelles 3D-Scannen in hoher Auflösung über weite Bereiche hinweg möglich sein soll. Der Modus ist nach Firmenangaben etwa neunmal schneller als der Feinmodus und eignet sich für Anwendungen, die ein Höchstmaß an Präzision verlangen.

Olympus Deutschland GmbH
ww.olympus-ims.com/en/microscope

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