nach oben
Meine Merkliste
Ihre Merklisteneinträge speichern
Wenn Sie weitere Inhalte zu Ihrer Merkliste hinzufügen möchten, melden Sie sich bitte an. Wenn Sie noch kein Benutzerkonto haben, registrieren Sie sich bitte im Hanser Kundencenter.

» Sie haben schon ein Benutzerkonto? Melden Sie sich bitte hier an.
» Noch kein Benutzerkonto? Registrieren Sie sich bitte hier.
Ihre Merklisten
Wenn Sie Ihre Merklisten bei Ihrem nächsten Besuch wieder verwenden möchten, melden Sie sich bitte an oder registrieren Sie sich im Hanser Kundencenter.
» Sie haben schon ein Benutzerkonto? Melden Sie sich bitte hier an.
» Noch kein Benutzerkonto? Registrieren Sie sich bitte hier.

« Zurück

Ihre Vorteile im Überblick

  • Ein Login für alle Hanser Fachportale
  • Individuelle Startseite und damit schneller Zugriff auf bevorzugte Inhalte
  • Exklusiver Zugriff auf ausgewählte Inhalte
  • Persönliche Merklisten über alle Hanser Fachportale
  • Zentrale Verwaltung Ihrer persönlichen Daten und Newsletter-Abonnements

Jetzt registrieren
Merken Gemerkt
09.04.2013

3D-Inspektionseinheit Sysmelec

Mehrere Kontrollen pro Sekunde

Die optische 3D-Inspektionseinheit von Sysmelec Unitechnologies, Gals/Schweiz, basiert auf dem Prinzip der konfokalen Chromatik, das mehrere Kontrollen pro Sekunde ermöglichen soll.
Mithilfe eines Matrixsensors der Inspektionseinheit wird ein Bild der zu analysierenden Oberfläche erzeugt. Die durch das optische System des Apparats eingeführte Chromatik ermöglicht es, die vom Sensor erfasste Farbinformation direkt in die gemessene Oberflächenhöhe zu konvertieren. Je nach Reflexionsgrad des Musters kann die Erfassung einige Hundert Millisekunden dauern. Sie benötigt keine mechanische Bewegung des Messkopfs. Eine solche Geschwindigkeit soll die Stabilitätseinschränkungen des Musters verringern und eine mit dem Produktionstakt einer Anlage kompatible Kontrolle bieten.
Das Design des optischen Systems ermöglicht laut Hersteller eine einfache Verbindung mit Standard-Objektiven. So können telezentrische Objektive mit großem Sichtfeld für Oberflächen bis zu 100  mm und mehr oder Mikroskop-Objektive für Submikrometerauflösungen eingesetzt werden. Der Anbieter verbindet die optische 3D-Inspektionseinheit mit der Entwicklung eines Frameworks, welches die Parametrierung einer kompletten 3D-Kontrollanwendung in wenigen Stunden ermöglicht. Die 3D-Kontrolle kann so in eine Anlage integriert werden wie auch eine Kontrolle mit Visionssystem.

Unitechnologies SA
www.sysmelec.ch
Halle 1, Stand 1832

Unternehmensinformation

unitechnologies group Sysmelec SA

Bernstraße 5
CH 3238 GALS
Tel.: +41 32 338-8585
Fax: +41 32 338-8601

Diese Beiträge könnten Sie auch interessieren
Newsletter

Sie wollen immer top-aktuell informiert sein? Dann abonnieren Sie jetzt den kostenlosen Newsletter!

Hier kostenlos anmelden

Beispiel-Newsletter ansehen