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27.05.2002

Einmal geprüft, überall akzeptiert

Vom 23. bis 25. September 2002 findet erstmals eine gemeinsame Konferenz der beiden Organisationen ILAC und IAF in Berlin statt. Die "International ILAC/IAF Conference on accreditation in global trade" bietet Akkreditierern, Herstellern, Behörden, Laboratorien, Zertifizierungs- und Inspektionsstellen eine noch nie da gewesene Konzentration von Informationen und Kommunikationsmöglichkeiten zum intensiven und auch kontroversen Meinungs- und Erfahrungsaustausch. "Einmal geprüft, überall akzeptiert" - ist eines der Hauptziele, die die internationalen Organisationen ILAC (International Laboratory Accreditation Cooperation) und IAF (International Accreditation Forum) verfolgen. Beide sind weltweite Zusammenschlüsse von Organisationen, deren Aufgabe die Kompetenzbewertung von Prüf- und Kalibrierlaboratorien sowie von Inspektions- und Zertifizierungsstellen ist. Die Konferenz verfolgt das Ziel, durch Erhöhung der Qualität der Ergebnisse von Laboratorien, Inspektions- und Zertifizierungsstellen zur Beseitigung von technischen Handelshemmnissen beizutragen. Für die Produzenten und Dienstleister heißt das: Sicherstellung von Kompetenzen, Vermeidung von Doppel- oder Mehrfachprüfungen, Minimierung von Zusatzaufwendungen beim Export und letztlich Verbesserung der Wettbewerbsfähigkeit. Inhaltlich vorbereitet und organisiert wird die Konferenz vom Deutschen AkkreditierungsRat (DAR) als Dachorganisation der nationalen deutschen Akkreditierungsstellen in enger Zusammenarbeit mit internationalen Partnern. Verantwortlich für die Ausrichtung der Konferenz ist die Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) in Berlin. Unterstützung leisten die europäische Organisation der Prüflaboratorien EUROLAB und ihr deutsches Mitglied Eurolab-D sowie zahlreiche Akkreditierungsstellen und Sponsoren. Weitere Informationen über die ILAC/IAF Conference sind auf der aktuellen Konferenz-Homepage der ILAC veröffentlicht. Bei einer Anmeldung bis zum 15. Juni 2002 wird ein Vorzugspreis gewährt. Quelle: BAM


QZ-Redaktion
qz <AT> hanser.de

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