patentierte optische Technologie zum ergonomischen Mikroskopieren

Vision Engineering Ltd.  

https://www.visioneng.de

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16:9

Werth Messtechnik GmbH  

https://www.werth.de

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Ebenheitsmessgeräte

Das Mikroskop ZEISS Lattice Lightsheet 7 ermöglicht die schonende 3D-Abbildung lebender Zelle und brachte den Entwicklern von ZEISS eine Nominierung für den Deutschen Zukunftspreis ein.

Mit ihrem Projekt „ZEISS Lattice Lightsheet 7“ nominiert für den Deutschen Zukunftspreis 2022 (v.l.): Ralf Wolleschensky, Dr. Jörg Siebenmorgen und Dr. Thomas Kalkbrenner.

Mikroskopentwickler von ZEISS für Deutschen Zukunftspreis 2022 nominiert | Krebsforschung✓  probenschonende Bildgebung✓  hohe Auflösung✓  | ➤ Jetzt informieren!

Qualitäts- / Wirtschaftspreis

Medizinische Physik

Naturwissenschaften

Physik

Medizintechnik

Mikroskopentwickler von ZEISS für Deutschen Zukunftspreis 2022 nominiert

Bei der mikroskopischen Qualitätskontrolle von glänzenden Oberflächen, wie Metalle oder polierte Bauteile, kommt es häufig zu Reflexionen, die die Prüfung erschweren. Die ideale Lösung ist die Verwendung von Polarisationsfiltern.

Analysegeräte

Werkstoffprüfung

Bildverarbeitungs-Software

Oberflächeninspektion

Kameras

Software für Optische Messtechnik

Mit Polfiltern von OPTOMETRON Reflexionen entfernen und Qualitätsprüfung vereinfachen

Ein Team um den HZB-Physiker Francisco García Moreno hat an der TOMCAT-Beamline der Synchrotron Lichtquelle Schweiz SLS am Paul-Scherrer-Institut einen neuen Weltrekord erreicht: Mit 1000 Tomogrammen pro Sekunde ist es nun möglich, sehr schnelle Prozesse und Entwicklungen in Materialien auf der Mikrometerskala zerstörungsfrei zu dokumentieren,

Röntgenmikroskopie mit 1000 Tomogrammen pro Sekunde

Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung

Neuer Weltrekord in der Materialforschung

Freiburger Initiative QUAREP-LiMi entwickelt Lösungen, um mikroskopische Bilder reproduzier- und vergleichbar zu machen.

Moderne Mikroskopie erlaubt Einblick in sonst unsichtbare biologische Prozesse

Grafik: © Thao Do (Allen Institute, Seattle, WA, USA)

Normen / Standards

Recht allgemein / sonst.

Universitäten, TU, FH, GH

Einheitliche Standards für die biologische Bildgebung gefordert

Mit den neuen Softwarefunktionen ZEISS LSM Plus und ZEISS Airyscan Joint Deconvolution erzielen Anwender bessere Ergebnisse in der konfokalen Mikroskopie.

Die Mitochondrien in einer Arabidopsis thaliana-Zelle. Der Vergleich von ZEISS Airyscan SR (links) und ZEISS Airyscan Joint Deconvolution (rechts) zeigt im rechten Bild eine deutliche Verbesserung von Auflösung und Kanaltrennung.

Laserscanner zum Messen

ZEISS LSM Plus und ZEISS Airyscan Joint Deconvolution vorgestellt

Inspektionssystem DeepFocus 1 bringt dank der MALS Technologie erweiterte Tiefenschärfe-Mikroskopie in neue Marktsegmente.

ZEISS Visioner 1 Digitalmikroskop mit Micro-Mirror Array Lens System

Qualitätssicherung

Qualitätsnachweise

ZEISS und Vision Engineering bündeln ihre Kräfte

Die Olympus Corporation gibt die abgeschlossene Ausgliederung des Geschäftsbereichs Scientific Solutions in eine 100-prozentige Tochtergesellschaft, die Evident Corporation, bekannt.

Der Geschäftsbereich Scientific Solutions der Olympus Corporation wurde in die 100%-ige Tochtergesellschaft „Evident Corporation“ ausgegliedert.

OLYMPUS ist nun EVIDENT

Die Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) erforscht in drei EU-Verbundprojekten neue Nanomaterialien für die Halbleitertechnik.

Mikroelektronik

Elektronik

Oberflächenbeschichtung

Holz

Hardware / Chipkarten / RFID

Spektrometer, Spektroskope

Beschichtungen

Oberflächentechnik

Chemisches Bearbeiten (Auftragen)

Virtual Reality für die Qualitätssicherung

Industrie 4.0

Industrie 4.0 für die Qualitätssicherung

Optische Mess- und Prüfverfahren

Qualitätssicherung Kunststoff

EU-Forschungsprojekte wollen Leistungsfähigkeit von Halbleitern verbessern

Bei der Überprüfung von filigranen Bauteilen wie Dichtungen stößt die optische Messtechnik an Grenzen.

Optische Kontrolle von Gummidichtringen mit dem Mikroferoskop

Simpler Aufbau, hohe Messgenauigkeit

Ein Spezialist für Verbindungstechnik setzt auf automatisierte und produktionsintegrierte optische 3D-Koordinatenmessung. Der Systemwechsel macht die Elektrodenfertigung flexibler und sorgt für vollflächige Messergebnisse.

Bild 2. Björn Berensen von GOM, Ralf Runte von Weidmüller und Michael Horstmann von Erowa (v.r.n.l.) zeigen sich sehr zufrieden mit den Ergebnissen des ersten gemeinsamen Pilotprojekts.

Elektroden und Werkzeuge automatisch scannen

Ohne  Vorbehandlung

Know-how in der Entwicklung von Hard- und Sofware für die automatische Bildverarbeitung

Fraunhofer Geschäftsbereich Vision c/o Fraunhofer-Institut für Integrierte Schaltungen IIS

https://www.vision.fraunhofer.de

Optoelektronische Bauelemente

Optoelektronik

Röntgenprüfgeräte

Ein sehr weit verbreitetes Verfahren zur optischen Formerfassung ist das Lichtschnittverfahren. Hierbei wird – meist mittels eines Lasers – ein gefächerter Lichtstrahl unter einem bekannten Winkel auf das Messobjekt projiziert.

Optische 3-D-Messtechnik

qz-online.de

Messen und Prüfen

Lasermesstechnik

Lichtschnittverfahren

Leica Microsystems, Wetzlar, hat die Einführung des Emspira 3 Digitalmikroskops für Qualitätskontrolle und Inspektion angekündigt. Dieses vereint in einem einzigen System alles, was für eine umfassende visuelle Inspektion erforderlich ist.

Digitale Komplettlösung für umfassende visuelle Inspektion

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Komplettlösung inspiriert zu einfachen Inspektionen

Die Hersteller Zeiss und Vision Engineering arbeiten gemeinsam an einer Echtzeit-Bildgebung mit erweiterter Tiefenschärfe.

Der Hersteller Zeiss und Vision Engineering, ein britischer Entwickler berührungsloser Mess-, digitaler 3D-Visualisierungs- und ergonomischer Inspektionstechnologien, arbeiten gemeinsam daran, die Echtzeit-Bildgebung mit erweiterter Tiefenschärfe weiteren Kundengruppen zur Verfügung zu stellen.

DeepFocus 1 kombiniert das Digitalmikroskop ZEISS Visioner 1 mit Micro-mirror Array Lens System (MALS) mit der technischen Kompetenz von Vision Engineering. Das Technologiepaket soll es noch mehr Anwendern ermöglichen, von der Erstellung sofortiger „All-in-Focus“-Bilder zu profitieren. Herkömmliche Inspektionssysteme haben mit einer geringen Schärfentiefe zu kämpfen, insbesondere bei einer starken Vergrößerung. Wird jedoch nur ein kleiner Bereich der Probe scharf abgebildet, können Merkmale übersehen werden, und die Inspektion ist unvollständig. Eine Nachfokussierung oder eine Nachbearbeitung sind zwar möglich, aber zeitaufwändig.

Mit der MALS-Technologie ermöglicht der ZEISS Visioner 1 dem Benutzer, die Probe in Echtzeit vollständig im Fokus zu sehen, ohne dass Bilder im Z-Stapel nachbearbeitet werden müssen. Möglich ist das, weil das namensgebende System mit einer Reihe von Mikrospiegeln, deren Ausrichtung gezielt verändert werden kann, „virtuelle“ Linsen mit deutlich unterschiedlichen Krümmungen und damit Schärfeebenen erzeugen kann. So lassen sich Höhenunterschiede von bis zu 69 mm mit einer bis zu 100-mal größeren Schärfentiefe als bei einem herkömmlichen Mikroskop optisch inspizieren.

Das Ergebnis ist ein effizienteres Verfahren zur Fehleranalyse mit schnellen Ergebnissen. Ein weiterer Bestandteil des DeepFocus 1 Pakets von ZEISS ist die ZEN core Imaging-Software. Vision Engineering bietet seinen Kunden die Möglichkeit, den DeepFocus 1 je nach Bedarf mit einem Tischständer, einem Mehrfachsständer oder als Prüfstation in der EVOTIS-Ausrichtung zu konfigurieren.

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Carl Zeiss AG  

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<ul><li>User-Survey ISO 9001: Ergebnisse der weltweiten Befragung von Normanwendern</li><li>Interview: Zur Datensicherheit im aktuellen Cloud-Lösungen</li><li>SPECIAL Fertigungsmesstechnik: Schneller, sicherer, genauer und flexibler</li></ul>

Ausgabenartikel

ZEISS Visioner 1 Digitalmikroskop mit Micro-Mirror Array Lens System 

Füllerprodukt ZEISS

Messe Control

Der Technologietag des Fraunhofer-Geschäftsbereichs Vision bietet einen Überblick über das Spektrum praxisrelevanter Technologien der Bildverarbeitung und optischen Messtechnik.

14. Fraunhofer Vision Technologietag

Das Seminar mit Praktikum »Inspektion und Charakterisierung von Oberflächen mit Bildverarbeitung« des Fraunhofer-Geschäftsbereichs Vision bietet einen umfassenden Einblick in die automatische Oberflächenprüfung, stellt unterschiedliche Prüf- und Analysemethoden vor und bietet die Möglichkeit, Prüfaufgaben mit Experten zu besprechen.